晶体参数测量板卡
专用于 32.768K 晶体性能检测，支持频率、负载电容、阻抗等关键参数的测量，测量精度可达 ±0.5ppm；测量速度快，增加板卡可实现 8 通道同步测量 。
| 产品名称 | 晶体参数测量板卡 |
| 特点 | 主要参数 |
| ★专用于32.768K晶体性能检测，支持频率、负载电容 | ★工作电压：5V |
| 阻抗等关键参数的测量，测量精度可达±0.5ppm | ★工作电流：0.25A |
| ★测量速度快,增加板卡可实现8通道同步测量 | ★接口：RS232,CAN |
| ★工作温度：-25℃~40℃ | |
| 应用场合：晶体生产成品检测 | |
